Оскільки рідкокристалічні дисплеї стають все більш широко використовуватися в повсякденному житті, їх основні компоненти, типи ланцюгів РК-дисплеїв та попит на них також зросли. У звичайних умовах тест контура керування РК-керуванням завершується на спеціальній тестовій системі LCD, але через високу ціну витрати на тестування також значно збільшуються, стаючи вузьким місцем, що обмежує масове виробництво схеми керування РК-керуванням . З огляду на викладені вище причини, стаття пропонує метод тестування керування живленням керування РК на основі цифрової тестової системи, з тим щоб реалізувати низьку вартість та високоякісне тестування контуру управління живленням РК. У той же час, згідно з характеристиками керуючої схеми керування РК, у поєднанні з практичним досвідом, вводяться деякі методи випробувань для керуючих ланцюгів управління РКД.
1. Введення
Пристрої РК-дисплеї широко використовувались у багатьох випадках завдяки їхнім видатним перевагам, таким як керування низькою напругою та низький енергоспоживання. Особливо для портативних електронних виробів, застосування рідкокристалічних дисплеїв, таких як STN та TFT, зробило швидкий прогрес. Аналоговий вивід ДК драйвера РК-дисплею (драйвер LCD Драйвер) безпосередньо приводить в експлуатацію різні панелі РК-дисплея та контролює роботу піксельних масивів різних РК-моніторів. Це основний пристрій на РК-дисплеях, і якість схеми управління драйвером РК-дисплея визначається безпосередньо. Ефект рідкокристалічного дисплея, тому дизайн цього типу схеми тестової програми також є особливо важливим. У цій статті в основному вводяться простий метод тестування схеми керування РК-керуванням на основі цифрової тестової системи та деяких порад, які автор узагальнює на практиці.
2 Складність тестування схеми живлення ЖКД
2.1. Багато штифтів
Число ведучих штифтів схеми керування живленням від РКД становить лише десятки і тисячі, відповідне тестувальне обладнання має налаштовувати велику кількість тестових каналів, загалом досягаючи 256-512 каналів або навіть 1024 каналів.
2.2 напруга точного привода
Для кольорового дисплея із 4096 кольорів три кольори RGB мають 16 рівнів сірого кольору для кожного кольору, що відповідає 16 рівням напруги приводу, тобто 16 (R) і TImes; 16 (G) & TImes; 16 (B) = 4096, якщо це справжній колірний дисплей, кожен колір - 256 рівнів сірого, що відповідає 256 приводам. Тому випробувальне обладнання має бути в змозі швидко та точно вимірювати вихідний аналоговий сигнал, що використовується драйвером РК-дисплея, з роздільною здатністю мілівольт. Це особливо важливо, оскільки напруга руху стабільна і рівномірна і має вирішальний вплив на РК-дисплей.
2.3 Широкий діапазон напруги на виході
Вихідна напруга на керуванні контуром керування РК-дисплеєм набагато вища, ніж напруга 5 В звичайного CMOS-пристрою, навіть досягаючи більше 30 В, і з огляду на особливість РК-дисплея, полярність робочої напруги повинна постійно зворотний Тому для випробувального обладнання діапазон вимірювання повинен досягати 30В або більше, і він може впоратись із зміною полярності робочої напруги.
2.4 Інші
Для деяких схем драйверів дисплея випробувальне обладнання потребує потужного програмного забезпечення аналізу сигналів для виконання арифметичної обробки даних аналогових даних напруги, відібраних у тестовому каналі, для отримання конкретної інформації про колір кожного пікселя та визначення стану пристрою.
3 Метод тестування схеми керування приводом для керування живленням
Це видно з типових проблем, коли схема керування РК-керуванням просто перерахована вище, що тестування таких схем висуває високі вимоги до можливостей тестування випробувального обладнання, так що найкраще випробувальне обладнання для схеми керування РК-контролем. Спеціальна тестова система не-рідкокристалічна схема, така як найбільша в світі компанія випробувального обладнання Advantest T6371, T6373, ND1, ND2 тощо. У 2008 році D750Ex від Teradyne і поточний драйвер LCD. Yokoga wa TS670 і TS6700 використовуються в основному в упаковці IC і масового виробництва. TS670 та TS6700 підтримують лише один єдиний драйвер для рідкокристалічного дисплея, максимум - вихідний контактний знак - до 736 штифтів. Проте за рахунок реклами багатоканальних технологічних продуктів (РК-телевізорів і т. Д.), Поточний вихідний контактний номер становить від 300 футів до 400 футів. Нога різко піднімається до 800 футів на більш ніж 1 000 футів. Може підтримати це ST6730 Yokogawa, ND1 і ND2 Advantech, D750Ex Teradyne та ін. (ND2 підтримує шпильки до 1 500 вище ноги, D750Ex може підтримувати до 2 400 футів).
Однак, беручи до уваги відповідне збільшення вартості тесту, для деякої схеми керування живленням на ЖК-дисплеї також можна використовувати цифрову тестову систему для просте тестування. Нижче описано метод тестування схеми керування живленням РК на основі цифрової платформи тестової системи.
Схема керування живленням керування РК, як і інші звичайні ланцюги, вимагає тестування деяких звичайних контрольних елементів, а також має деякі спеціальні методи випробування з-за власних характеристик.
3.1 Функціональний тест
Подібно загальній логічній схемі, функціональне випробування схеми керування РК-дисплеєм повинно перевіряти кожен функціональний модуль схеми. Проте вихідний рівень сигналу вихідного сигналу ДК на керуванні РКД не є логічним рівнем "0" або "1" загального логічного пристрою, але кроковим аналоговим сигналом. Коли для тестування використовується цифрова тестова система, той же сегмент може бути протестований. Код вибирає два порогових рівня для двох тестів для досягнення базового тесту на виході РК-приводу.
3.1.1 Поради щодо програмування
Деякі схеми рідкокристалічного живлення мають внутрішні зони пам'яті для зберігання пам'яті, які потрібно записати, принаймні, в шаховому режимі для запису 0101, 1010 даних для перевірки їх функцій читання та запису, так що суміжні адресні блоки знаходяться в різних станах логічного рівня, а іноді навіть потрібно писати. Введіть всі 0 і всі 1 дані, щоб повністю покрити такі функціональні тести.
3.1.2 Поради щодо програмування II
Коди функціональних тестів іноді повинні бути написані самі собою, а не дизайнером за допомогою логічного симуляції. У цей час, об'єднуючи фактори скорочення часу тесту та зменшення витрат на тестування, необхідно уважно розглянути методи функціональних випробувань, щоб повністю охопити всі функції контуру. , І може ефективно зменшити час тесту. Це залежить від власного розуміння функції та практичного досвіду схеми.
Наприклад, схема драйвера керування РК-дисплеєм повинна читати та записувати порти двонаправлених даних через схему, щоб завершити передачу команд і даних під час функціонального тесту, а потім співпрацювати з іншими логічними пристроями для відображення письмових даних на виводі портів для відображення рідкокристалічного дисплея. Тест його внутрішньої ОЗУ можна повністю перевірити через двонаправлений порт, більше не потрібно надсилати його на виході РК-драйвера, а швидкість читання та запису двонаправленої порту може бути набагато швидшою, ніж виведення на екран, так що коли ОЗП перевіряється таким чином, це може бути доречним. Прискорити читання та запис тактової частоти, щоб зменшити час тесту.
3.2 тест параметрів
Інші тестові параметри ланцюга РК-приводу в основному такі ж, як і загальна цифрова схема. Ось деякі спеціальні параметри, які потребують уваги.
3.2.1 Випробування на виході з РК-випромінювання
Як згадувалося раніше, за всіма параметрами схеми драйверів ЖК-дисплея ключовим параметром є драйвер виводу ЖК-дисплея (або відхилення вихідної напруги на ЖК-дисплеї, виведення на виході з РК-екрану). Це робить вирішальний вплив на дисплейний ефект РК-дисплеїв, особливо для пристроїв відображення з більшою специфікацією (більше точок пікселя), кількість виводів вихідних виводів схеми керування РК-дисплеєм є більшою, якщо шпильки знаходяться під одним навантаженням. Якщо відхилення вихідної напруги занадто велике, колір дисплея кожного пікселя на РК-дисплеї буде несумісним. Отже, відхилення вихідної напруги всіх вихідних штифтів керування живленням керування від РК під таким самим навантаженням необхідно перевірити один за одним. Переконайтеся, що всі вони перебувають у межах дозволеного діапазону.
Зазвичай час тестування блоку випробувань параметрів постійного струму тестової системи становить кілька до декількох десятків мілісекунд. Тому, чим більше кількість виводів вихідного сигналу ланцюга, тим довше буде час випробувань цього елемента, а витрати тесту на виробництво схеми також зростатимуть. . Кращий спосіб тестування:
(1) Для систем тестування з рідкокристалічним моніторингом існує декілька цифрових семплерів (DigiTIzer), які можуть бути використані для безперервного аналізу напруги, так що схема може завершити цей тест протягом відносно короткого періоду часу. Наприклад, система тестування ST6730 Yokogawa налаштовується з цифровим семплером з використанням кожного виводу з виходом на ЖК-дисплей, а тестова система Advantech оснащується цифровим семплером для кожних 8 штифтів із виходом на екран.
Схематична схема методу тестування цифрових семплерів показана на малюнку 1.
The
Малюнок 1 Схематична схема методу тестування цифрових семплів
(2) Деякі тестові системи мають штифт навантаження (навантаження AcTIve). Якщо робоча напруга кожного сегмента випробуваного пристрою для РК-дисплея знаходиться в межах допустимих умов апаратного забезпечення системи, а також є достатньо тестових каналів, кожен може також бути використаний. Метод проведення тестування функції вихідного штифта з драйвером ЖК-дисплея з навантаженням зручний та економію часу, щоб завершити тестування цього параметра одночасно з тестуванням функції. Схематична схема цього методу показана на малюнку 2.
3.2.2 динамічний тест на витік парціального тиску
Цей параметр не є основним параметром в специфікації сховища керування РК-дисплеєм, але при використанні цифрової системи для перевірки цього типу ланцюга, додавання цього параметра до тесту може ефективно покращити рівень охоплення несправностей ланцюга. Специфічний метод тесту:
Напишіть дані таким чином, щоб вихідний термінал драйверного драйвера схеми ПК відображався нормально в режимі шахової дошки, а потім проводив тест на динамічний струм витоку на кожному вході контуру рівня напруги.
Малюнок 2 Схематична схема методу функціонального випробування для керування вихідним штифтом з навантаженням
4 Висновок
З розвитком науки і техніки, різноманітні схеми драйверів РК також змінюються з кожним днем. Для цієї серії схем, методи випробування також різні для різних схем виконання. У цій статті представлено лише метод тестування схеми керування РК-керуванням на основі цифрової тестової системи та ділиться кількома порадами щодо тесту, які автор узагальнює на практиці. Це підходить для недорогих високоякісних випробувань керуючих ланцюгів РК-контролю.
